與普通EDXRF相比，分辨率高，其核心光路系統集合國內外幾十年EDXRF尖/端技術(shù)，核心部件采用美國進(jìn)口，軟件算法采用美國EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標準樣品均有權/威第三方檢測機構報告；采用小光斑設計，多種工作模型供選擇，測試數據更精/確，更穩定。

產(chǎn)品特性 1. 元素測試范圍從S-U，可有效管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六價(jià)鉻的Cr元素，同時(shí)也可以管控無(wú)鹵指令中的Cl和Br元素。 2. 配備進(jìn)口的探測器，分辨率性能佳；專(zhuān)業(yè)訂做的X射線(xiàn)管和高壓電源，可*RoHS和無(wú)鹵環(huán)保指令的檢驗。 3. 配套軟件采用經(jīng)驗系數法、理論α系數法和FP法算法，結合開(kāi)放式工作曲線(xiàn)可以更快速、準確的實(shí)現各種材料中管控元素的

X射線(xiàn)管發(fā)出X射線(xiàn)照射樣品，樣品中所含的原子則向外發(fā)射原子*的X射線(xiàn)。這種X射線(xiàn)被稱(chēng)為熒光X射線(xiàn)，各元素具有特定的波長(cháng)（能量）。因此，通過(guò)檢測X射線(xiàn)的波長(cháng)就能夠進(jìn)行定性分析。另外，熒光X射線(xiàn)的強度與濃度具有函數關(guān)系，檢測每個(gè)元素X射線(xiàn)特征波長(cháng)的X射線(xiàn)量就能進(jìn)行定量分析。

能量色散型X射線(xiàn)熒光分析儀 EDX-LE Plus是一款用于RoHS/ELV/法規限制的有害元素篩選分析的X射線(xiàn)熒光分析裝置。 配備無(wú)需液氮型電子制冷（高分辨率SDD）檢測器，因此在實(shí)現降低運作成本和更易維護的同時(shí)，以維持高可信性分析和進(jìn)一步提高操作性達到自動(dòng)化分析為目標。 根據不同樣品從開(kāi)始測試到得到結果所需測試時(shí)間基本上可在1分鐘內完成，所以*可以應對RoHS法規中所限制的有害元素的篩選分